DB61／T 512-2011 太阳电池用单晶硅片检验规则
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片径向电阻率变化测量按GB/T11073规定的方法
少数载流子寿命测试按GB/T1553—2009附录A——高频光电导衰减法或SEMIMF1535—2007规定的 方法进行。
硅单晶晶体完整性测试按GB/T1554规定的方法进行
以批的形式提交验收，每批应由同一牌号，相同
DB61/ I 5122011
出厂检验项目包括硅片表面质量、规格及尺寸、厚度和总厚度变化、电阻率、径向电阻率变化 4）。产品应经生产企业质检部门检验合格，并签发合格证后方可出厂
型式检验包括本标准规定的全部检验项目（见表4），型式检验每年应进行1次。有下列情况之一时， 亦应进行型式检验： a）新产品投产鉴定或鉴定新产品转厂生产时； 正常生产而原材料、工艺、关键设备等有较大改变，可能影响产品质量时； C 产品停产半年以上，恢复生产时； d） 供需双方发生产品质量争议需要仲裁时； e 国家质量监督部门或主管部门提出型式检验要求时。
表4检验项目及合格质量水平
5.1硅片出厂检验按GB/T2828.1规定的一次抽样方案建筑施工图集，其检验水平、合格质量限（AQL）见表
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出厂检验的项目全部合格，则该检验批合格，产品可交付，否则出厂检验不合格，产品不能交付。 抽检不合格的产品批，供方可对不合格项进行全数检验，除去不合格品后，合格品可重新组批、提交检 验。 6.5.2硅片型式检验按GB/T2828.1规定的一次抽样方案，其检验水平、合格质量水平（AQL）见表4。 型式检验所有项目全部合格，则判定型式检验合格，否则型式检验不合格。若型式检验不合格，则判定本 批产品不合格，针对不合格批产品，查明原因、采取纠正措施后，重新进行型式检验。
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