JC/T 2545-2019 高性能红外探测器用热释电单晶.pdf

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  • 热释电单晶的产品外表面应无明显的划痕、崩边、崩口、肉眼可见的裂纹、色斑或其他外观缺

    热释电单晶的尺寸标记为L(长度)×W(宽度)×T(厚度),单位为毫米。尺寸公差应满足以下要 和宽度的尺寸公差不超过0.05mm,厚度尺寸公差不超过0.02mm

    灭火系统标准规范范本外观质量进行目测检验。

    产品的长度和宽度采用分度值不大于0.02mm的游标、 带表或数显卡尺进行检测。 产品的厚度采用分度值不大于0.01mm的螺纹千分尺进行检测。

    按照GB/T11297.10的规定,在测试频率为1kHz的条件下进行检测。

    6.3.3相对介电常数

    6.3.4介电损耗角正切

    ■按照NB/SH/T0632的规定检验,在测

    安照GB/T11297.8的规定检验,在测试温度为25C的条件下进行检测。

    6.3.7电流响应优值

    6.3.8电压响应优值

    式(3)进行计算,探测率优值的频率响应机制和

    7.1检验分类和检验项目

    险验分为出厂检验和型式检验,检验项目见表3

    JC/T25452019

    注:表中“}”表示必检项目;“口”表示选检项目

    JC/T2545—2019

    一批原料在同一条生产线上经相同工艺连续生产的,具有相同规格尺寸的产品组成。

    由同一组成同一批原料在同一条生产线上经相同工艺连续生产的,具有相同规格尺寸的产品组

    7. 2. 2抽样方案

    7. 2. 3合格判定

    每个样本的各项检验项目全部符合要求时,则出厂检验合格;有一项或一项以上指标未符合规 寸,应按表4的规定加倍抽样重新检验,仍有一项或一项以上指标未符合规定要求,则应对提交 #行100%检验。

    凡有下列情况之一时,应进行型式检验: a)产品定型鉴定或产品转厂生产时; b) 正式生产后,如设备、原材料、工艺有改变,可能影响产品的质量时; c)1 停产12个月及以上,恢复生产时; d)批量生产时,每隔12个月进行一次。

    按表4的抽样方案进行。

    每个试样的各项检验项目均符合要求,则判型式检验合格:若有一项不符合要求,则判 合格。

    8标志、包装、运输和贮存

    志应包括:产品名称、型号规格、数量、生产

    应防止污染、碰撞、挤压、强烈震动。

    产品应贮存在室温、洁净和无化学腐蚀性的环境中

    JCT25452019

    则试方法如下: 将试样放置于加热炉的均匀温区内,热电偶的放置位置应能确切反映试样的温度。连接好线路, 按需要调节好仪器的各档量程: 以小于0.5℃/min的速率升温,每隔不大于0.1℃记录下热电偶的温度值和电容值的一组对应 数据,并画出介电常数随温度变化曲线,如图A.1所示:

    图A.1热释电单晶介电常数随温度变化曲线

    B.1热释电红外探测器的噪声

    在实际使用过程中,内部及外部的 电红外探测器的性能。探测器中的噪声来源 主要有以下几种,见表B.1。其中e.、i为电子元件的固有参数

    热释电红外探测器中的

    总噪声为各噪声的平方和开根号,见公式(B.1)

    该值的大小反映了红外探测器可探测红外光的最小功率。 比探测率D*作为反映红外探测器信噪比的一个常用的参数,其计算公式见公式(B.3):

    它表示的是单位表面积(1cm)和单位带宽(1Hz)下的探测率。 在1Hz以上的情况下,探测器的热时间常数tr与电时间常数te大约在0.1s~10s范围,此处作些 简化,令wtr≥1,wte≥1,此时 uD、UR、uT、u;的值分别见公式(B.4)、公式(B.5)、公式(B.6)、公式 (B.7):

    性能热释电单晶红外探测器噪声的频率响应机制

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    保温标准规范范本4kTtan up (B. 4) wCp 1 4kT (B. 5) uR wC,RG p 4kT?G (B. 6) uT wCyd,C, (B. 7) u

    表B.2电压模式下模拟用灵敏元的性能参数

    从图B.1中可以看出,当电阻值为10GQ2时,在低频段0.1Hz

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    式中不同电阻值下热释电红外探测器的噪声密

    另一方面,在电阻值100G2时,对灵敏元的损耗分别为0.001、0.003、0.005、0.01、0.0001 电损耗噪声进行了模拟,如图B.2所示。可见,在1Hz

    道路标准规范范本值100GQ时热释电红外探测器的介电损耗噪声

    ....
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