JB／T 13686-2019 光栅编码器 加速寿命试验方法.pdf
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JB/T136862019
表3各应力水平试验时间
试验步骤如下 a）按4.4规定的抽样原则抽取规定数量的编码器，投入试验过程。 b）监测间隔：可采取连续监测或间断监测的方式，电气信号的监测可采取连续监测，轴系及编码器 准确度的监测可采取间断监测。根据施加应力水平的高低选择测试时间间隔，应力水平低时，间 隔时间长，应力水平高时，间隔时间短，监测数据记录于编码器加速寿命试验运行记录表中。 c）按4.3规定的失效的判定原则判定产生失效的类型并记录于编码器加速寿命试验故障记录表中。 d）发生故障以后，故障前试验时间计为失效寿命。 e）编码器的加速寿命试验按照定时截尾的方式进行，各应力水平下的截尾时间按照表3执行。根 据试验数据，预测编码器伪失效寿命。
公式（9)，对数变换后的加速寿命模型见公式（10)。
供水标准规范范本Inn= In A++G RH
应用加速寿命模型，计算出编码器在正常使用条件下的伪失效寿命。根据经验，将编码器正常应 水平下伪失效寿命的2~3倍作为编码器的报废寿命。
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