GBT 6394-2017 金属平均晶粒度测定方法

.1.1比较法是通过与标准评级图对比来评定平均晶粒度。适用于评定具有等轴晶粒的再

8.1.1.2 本标准有下列四个系列标准评级图： a) 评级图I：无李晶晶粒（浅腐蚀）100倍； b) 评级图Ⅱ：有李晶晶粒（浅腐蚀）100倍； c) 评级图Ⅲ：有李晶晶粒（深腐蚀）75倍； 评级图IV：钢中奥氏体晶粒（渗碳法）100倍。 8.1.1.3 表2给出常用材料推荐使用的标准评级图片

8.1.1.2 本标准有下列四个系列标准评级图 a) 评级图I：无李晶晶粒（浅腐蚀）100倍； 评级图Ⅱ：有李晶晶粒（浅腐蚀）100倍； 评级图Ⅲ：有李晶晶粒（深腐蚀）75倍； 评级图IV：钢中奥氏体晶粒（渗碳法）100倍 8.1.1.3表2给出常用材料推荐使用的标准评级图片

材料推荐使用的标准评

生截面的数量与位置和测定特征或平均晶粒度用的视场。不能凭视觉选择出似乎是平均晶粒度的区域 评定。推荐按5.10选取视场。 8.1.1.5晶粒度的评定应在试样截面上随机选取三个或三个以上的代表性视场测量平均晶粒度，以最 能代表试样晶粒大小分布的级数报出。 8.1.1.6若试样中发现晶粒不均匀现象，经全面观察后，如属偶然或个别现象，可不予计算。如较为普 遍，则应计算出不同级别晶粒在视场中各占面积百分比。若占优势晶粒所占的面积不少于视场面积的 0%，则只记录此一种晶粒的级别数。否则，应用不同级别数来表示该试样的晶粒度，其中第一个级别 数代表占优势的晶粒的级别。出现双重晶粒度园林养护管理，按GB/T24177评定，出现个别粗大晶粒可以按照 YB/T4290评定。 能带有的主观偏见

1.2显微晶粒度的评定

组织图像或显微照片与相应表2的系列评级图或标准评级图复制透明软片比较，选取与检测图像最接 近的标准评级图级别数或晶粒直径，记录评定结果。介于两个整数级别标准图片之间，以两个图片级别 的平均值记录。 8.1.2.2如将检测的晶粒图像与标准系列评级图投影到同一荧屏上，可提高评级精确度。 8.1.2.3当待测晶粒度超过标准系列评级图片所包括的范围，或基准放大倍数（75倍或100倍）不能满 足需要时，可采用其他的放大倍数，通过表3、表4或按8.1.2.4给出的式（3）进行换算处理。通常，所选 用的放大倍数是基准放大倍数的简单整数倍

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（75倍或100倍）的系列评级图片比较，评出的晶粒度级别数G，其显微晶粒度级别数G为： G=G+Q 式中： Q=6.64391g（M/M,），保留0.5单位。 8.1.2.5在晶粒度图谱中，最粗的一端即00级一个视场中只有几个晶粒，在最细的一端晶粒的尺寸非 常小，准确评定级别很困难。当试样的晶粒尺寸落在图谱的两端时，可以变换放大倍数使晶粒尺寸落在 靠近图谱中间的位置

平级图Ⅲ在不同放大倍数下测定的显微晶粒度的

4与标准评级图I、I、V等同图像的晶粒度级

8.1.3宏观晶粒度的评

8.1.3.1对于特别粗天的晶粒使用宏观晶粒度进行的测定，放大倍数为1倍。直接将准备好的有代表 性的晶粒图像与评级图I（非李晶）和图Ⅱ及图Ⅲ（李晶）进行比较评级。由于标准评级图是在75倍和 100倍下制备的，待测宏观晶粒不可能完全与系列评级图的级别一致。为此，宏观晶粒度可用平均晶粒 直径或表5所列的宏观晶粒度级别数G来表示 8.1.3.2当晶粒较小时，最好选用稍高的放大倍数M进行宏观晶粒度的评定。若评出的晶粒度级别数 为G·其宏观晶粒度级别数G按式（4）计算

式中： Qm=6.64391gM.保留0.5单位

式中： Qm=6.64391gM.保留0.5单位

均匀、各向同性的等轴晶粒宏观晶粒度计算关系

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8.2.1面积法是通过计数给定面积网格内的晶粒数N来测定晶粒度。 8.2.2将已知面积A（通常使用5000mm）的圆形或矩形测量网格置于晶粒图像上，选用合适的放大 倍数M，然后计数完全落在测量网格内的晶粒数N丙和被网格所切割的晶粒数N交，该面积内的晶粒数 V按式（5）或式（6）计算： a)对干圆形测量网格

对于矩形测量网格，N交不包括四个角的晶粒：

8.2.3为了取得的晶粒个数的精确计数，应想法将已计数的晶粒区分开，例如用笔勾划。在试验圆内 的晶粒个数N不应超过100个，采用的放大倍数以使试验圆内产生约有50个晶粒的计数是每一个视 场精确计数的最佳选择。由于精确的计数需要区分晶粒，所以面积法比截点法（见8.3)略逊色一些。 8.2.4如果试验圆内的晶粒数N降至50以下，那么使用面积法评估出的晶粒度会有偏差，有较大的分 散性。偏差程度随N从50开始减小而增大。为了避免这个问题，选择合适的放大倍数，使N大于或 等于50，或者使用矩形和正方形试验图形，采用式（6）的计算晶粒数N如果采用的倍数使N大于100 时，计数变得元长，增加计数误差，结果会不准确。随机选择多个视场，晶粒总数至少为700时，测定晶 粒度的相对准确度可达到10%。 8.2.5通过测量网格内晶粒数N和观察用的放大倍数M，可按式（7）计算出实际试样检测面上（1倍） 的每平方毫米内晶粒数N：

8.2.6晶粒度级别数G按式(8)或式(9)计算

8.2.6晶粒度级别数G按式(8)或式(9)计算：

.................7

3.2.7随机的、不带偏见地按5.10选取视场。不允许刻意去选取典型视场。在抛光面上从不同位置随 机地选取视场，才真实有效。为了确保有效的平均值，最少要计算三个视场，

8.3.1.1截点法是通过计数给定长度的测量线段（或网格）与晶粒边界相交截数来测定晶粒度。 8.3.1.2截点法比面积法简便。建议使用手动计数器，以避免计数时常规的错误和消除出现高于或者 低于预期计数时可能产生的偏差。 8.3.1.3对于非均匀等轴晶粒应使用截点法。对于非等轴晶粒度，截点法既可用于分别测定三个相互 垂直方向的晶粒度，也可计算总体平均晶粒度 8.3.1.4截点法有直线截点法和圆截点法。圆截点法可不必过多的附加视场数，便能自动补偿偏离等 轴晶而引起的误差，克服了试验线段端部截点法不明显的毛病。圆截点法作为质量检测评估晶粒度的 方法是比较合适的。 业4m00

图1截点法用的500mm测量网格

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对于每个视场的计数按式（10)和式（11)计算单位长度上的截线数N，或截点数P，

1.7对每个视场按式（12)计算平均截距长度值1

N; M·N NL L/M L P; M·P L/M L

8.3.1.8用NL、PL或I的n个测定值的平均数值按式（13)～式（15)来确定平均晶粒度G，有关数据见 表6或见图2

....................5

表6均匀、各向同性的等轴晶粒显微晶粒度关系

500mm测量网格的截线计数与显微晶粒度级别

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保证最少能截获约50个截点。根据测量网格的所截获的截点数来确定晶粒度 8.3.2.2计算截点时，测量线段终点不是截点不予计算。终点正好接触到晶界时，计为0.5个截点。测 量线段与品界相切时，计为1个截点。明显地与三个晶粒汇合点重合时，计为1.5个截点。在不规则品 粒形状下，测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点后有伸入形成新的截点，计算截点时，应包 括新的截点。 8.3.2.3为了获得合理的平均值，应任意选择3个～5个视场进行测量。如果这一平均值的精度不满 足要求时，应增加足够的附加视场。视场的选择应尽可能大的分布在试样的检测面上。 8.3.2.4对于明显的非等轴晶组织，如经中度加工过的材料，通过对试样三个主轴方向的平行线束来分 别测量尺寸，以获得更多数据。通常使用纵向和横向，必要时也可使用法向。图1中任一条100mm线 段，可平行位移在同一图像中标记“十”处五次来使用

8.3.3.1对于试样上不同位置晶粒度有明显差别的材料，应采用单圆截点法，在此情况下需要进行大量 视场的测量， 8.3.3.2使用的测量网格的圆可为任一周长，通常使用100mm、200mm和250mm，也可使用图1中 所标识圆。 8.3.3.3选择适当的放大倍数，以满足每个圆周产生35个左右截点。测量网格通过三个晶粒汇合点 时，计为2个截点。 8.3.3.4将所需要的几个圆周任意分布在尽可能大的检验面上，视场数增加直至获得足够的计算精度

3.3.4.1试验表明，每个试样截点计数达500时，可获得可靠的精确度。对测量数据进行X检验，结果 表明截点计数服从正态分布，从而允许对测量值按正态分布的统计方法处理。对每次晶粒度测定结果 可计算出结果的偏差及置信区间（见附录B）。 8.3.4.2测量网格由三个同心等距，总周长为500mm的圆组成，见图1。将此网格用于测量任意选择 的五个不同视场上，分别记录每次的截点数。然后计算出计数相对误差百分数、平均晶粒度和置信区 间。一般相对误差百分数为10%可更小是可以接受的精度等级，如相对误差百分数不能满足要求，需 增加视场数，直至相对误差百分数满足要求为止。 8.3.4.3选择适当的放大倍数，使三个圆的试验网格在每一视场上产生40～100截点计数，目的是通过 先择5个视场后可获得400～500总截点计数，以满足合理的误差。图2给出500mm测量网格在不同 效大倍数下，截点计数与晶粒度级别数G的关系。图中阴影区域为最佳测量范围。 3.3.4.4通过三个晶粒汇合点时.截点计数为2个

.1如晶粒形状因加工而发生变化，不再是等轴形状时，对于矩形棒材、板材及薄板材料晶粒度应 向（l）、横向（t）和法向（p）截面上进行测量；对于圆棒材晶粒度可在纵向和横向截面上测量 2如果等轴偏差不太大（小于3：1形状比），可在试样的纵向截面上使用圆形测量网格进行测

推荐使用GB/T4335测量。 9.1.3如果使用直线取向测量网格进行测定，可使用三个主要截面的任意两个面上进行三个取向的 测量。 9.1.4面积法或者截点法计算的数据，按附录B的方法，对每一个面或每一个主试验方位上的数据进 行统计分析。

当晶粒形状不是等轴而是被拉长时，要在纵 、横向和法向三个主截面上进行晶粒计数。分别在纵 向、横向和法向截面上测定实际试样面上（1倍）每平方毫米内晶粒数Na、NA和NA，按式（16）计算出 每平方毫米内平均晶粒数N，然后按式（8)计算晶粒度级别数G

NA=(NAI· NA · NA) /

9.3.1要测量非等轴晶组织的晶粒度，可随机在三个主试验面上使用圆形测量网格测量，或使用直线 段在两个或三个主试验面的3个或6个主要方向上（见图3)进行截点或者截线计数。 9.3.2晶粒度可由单位长度上晶粒边界的截点平均数PL或单位长度上晶粒的截线平均数N,的测量 来确定。对于单相晶粒结构，这两种方法结果是一样的。P及N，既可以用试验圆在每一个主平面上， 也可以用有取向的试验线在图3所示的3个或6个主试验方向上测量

D）正交主试验线的取向

图3晶粒测量六个可能取向的试验线的示意图

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）所有六个试验线的取向

PL =(PL : PL : PL)/

N,=(N.. N.N.,) /

或者使用式（12)从每一个主平面上从P，及N，值计算出三个主平面各个的I，、L，和I， 式（19）再计算出1的总平均值

[ =(,1, 1,)

.4如果在主平面的主方位上使用直线的试验线，只需要在两个主平面上完成三个主方位的取向 并获得晶粒度的测定。 .5测定纵向面上与变形轴平行（0°）和垂直（90°）的1可得到晶粒形状的附加信息。品粒的延长 各向异性指数AI，可按式（20）确定：

Z0) : I (90) : Ie(9g

9.3.7对于在三个主试验方向测量的I平均值，可先计算各取向的N，及P，值，如式（21)所示，然后 从P，值按式（12)计算出；同样，对于N，进行相同方式的计算

或者通过计算三个主方向上各个取向的1值.按式（22)计算平均值1

=[11(0) L,(90) · e(90)

.8利用表6或式(13）、式(14)、式（15)从所得N，P或者I的平均值确定平均晶粒度。

10含两相或多相组织试样的晶粒度

10.1.1少量的第二相质点，不管是否是所需的形貌，在测定晶粒度时可忽略不计。也就是说，按单相 组织处理，并且可使用面积法和截点法测定晶粒度。除另有规定外，应将有效的平均晶粒度视为基体的 晶粒度。 10.1.2每一个测量相的特征和各个相占视场的面积百分数都应测定并报出

如果基体晶粒边界清浙可见，并且第二相颗粒主要存在基体晶粒之间而不是在晶粒内，则可使用面 积法测量第二相占检验面积的百分数。通常，先测定最少含量的第二相的总量，然后，用差额测定基体 相；再按8.2计算基体晶粒完全落在检验面积内的个数和基体晶粒与检验面积边界相交的个数。选用 的测量网格面积大小，应以只能覆盖基体晶粒为度。由基体单位净面积内晶粒数来确定有效平均晶粒 度。按附录B的方法，从每一个视场的测量值中统计分析基体（α）的单位面积的晶粒数NAa。然后，利 用表6或式（9）从总平均值N.确定基体的有效晶粒度

4.1在10.3面积法中有关限制性规定也适用于本截点法。此外，还应按10.3测定基体相的百 使用图1中的一个或多个试验圆组成的测量网格，计数与试验线相交的基体晶粒的个数N。按 3）确定基相的平均截线长度

注：可利用AA估计Vv。 10.4.2利用表6或式（15)确定基体（α）的晶粒度。实际上，对每一个视场手动操作测定基体（α）的面 积分数及基体（α）与试验线的相交截数有一定困难。可以这样操作，测定每个视场基体（α）的平均截线 长度，并对每视场的数据按附录B的方法进行统计分析。假若对同一视场Vv和N。不能同时测量，那 么，只能在Vv和N。数据上进行统计分析。 10.4.3使用直的平行试验线段随机地放置到晶粒图像上，可以通过测量各个截距计算出平均截距长 变1。。试验线末端的局部截线不计数。用这个值按表6或式（15)确定G。若不采用自动方法，这种方 法很琐。 注：单个截距长度可以绘制柱形图，但是，这样做是对单个晶粒评级，不是本标准所测定的平均晶粒度，这种方法超 出了本标准范围

11.1晶粒度的数值表示

1.1使用任何一种方法测量晶粒度，最初是以单位面积上的晶粒数NA、单位长度上晶粒截线数

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或者晶界截点数P，来表示。这些数值使用往往不方使，因此，通常以晶粒平均直径&、平均截距7、晶粒 平均截面积A及晶粒度级别数G等量来表示。 11.1.2因为晶粒度的各种数值表示都是由初测量值NA和P通过对数或倒数关系而算出的。所以， 要表示一组试样的晶粒度，不能简单地将各个晶粒度计算值进行平均。否则所得到的平均值将是试样 中实际不存在的晶粒度，并且也不能进行各种晶粒度计算值的相互转换。如取样数量少，可取该组数值 的中位数表示试样的晶粒度。如取样数量多，其测量值服从正态分布，可先求出NA、N，和P，平均值 后，再计算出相对误差、平均晶粒度级别及晶粒度的置信限。 11.1.3对于比较法，只报出晶粒度级别数G。 11.1.4对于截点法和面积法，列出被测量视场的数量、放大倍数及视场面积、计数晶粒的数目或计数 截线及截点数目，报告出平均测量值、标准偏差、95%置信区间、相对误差和晶粒度级别数。 11.1.5对非等轴品组织，列出评定方法、检验面、检测取向（如有测量）、每一个检测面或取向上估算的 晶粒度、测量面总平均值，计算或者评估的晶粒度级别数 11.1.6对于两相组织，列出评定方法、基体相的面积百分数（如有要求）、基体相的晶粒度测量（标准偏 差、95%置信限与百分数相对误差），算出或评定的晶粒度级别数。 11.1.7对于双重晶粒度时，按GB/T24177报告两类有代表性的晶粒度级别，对于ALA晶粒度，按 YB/T4290评定

11.2.1铁素体钢及奥氏体钢的晶粒度，试验报

11.2.1 铁系体钢及奥氏体钢的晶粒度，试验报告应包括： a) 标准号； b) 钢的牌号和炉号； 产品规格和尺寸； C d) 试样的热处理方法（铁素体钢原奥氏体品粒的形成方法）； e) 晶粒度显示方法； f) 晶粒度评定方法； g) 晶粒度的数值（见11.1.3～11.1.7规定报告相关内容）； h) 试验报告编号和日期； i) 检验者姓名。 11.2.2 铜和铜合金的晶粒度，试验报告宜包括： a) 晶粒度显示方法； b) 晶粒度以毫米为单位按平均直径报出。 注：平均直径是指检验面上所显示的晶粒平均“直径”。 11.2.3 其他金属及其合金的晶粒度显示方法及晶粒度数值按相关的技术条件或供需双方协议要 报告。

12.1晶粒度测量精度及偏差最决于试样的代表性及选择测量的抛光面。如果晶粒度在产品内有变 化，试样及视场的选择应充分抽取到这种变化， 12.2产品晶粒度测量的相对精度随看从产品中取样数量的增加而提高。每个试样晶粒度测量的相对 精度随着抽取的视场数、晶粒数或截线及截点计数的增加而提高。 12.3如果试样制备不适当将会产生测量偏差。为了获得最佳的测量精度和避免偏差，应显示出真实 的组织和完整地描绘出晶粒边界。未被显示出的晶粒边界的数量增大，偏差也增大，同时精度、重现率

12.4使用错误放大来观测品粒组织也会产生偏差。 12.5如果晶粒组织的形状不是等轴，例如，晶粒形状因变形而被拉长或压平，仅在一个面上，特别在与 变形方向垂直的面上，测量晶粒度将会偏离试验结果。使用平行于变形方向的检验面极易察觉晶形状 的变形。变形晶粒的尺寸应按9由两个或三个主平面所得的平均测量值为基准。 12.6使用比较法时，为了获得最佳的精度，应选取用和晶粒的特征及腐蚀一致的评级系列图谱，例如 考虑李晶或非李晶、渗碳与缓冷、浅腐蚀或晶粒反差腐蚀等因素。 12.7晶粒度测量的相对误差随晶粒或截线的计数增多而改善。在具有相同的计数时，截点法测量晶 粒度的相对精度比面积法好。对于截点法，用400个截线或截点计数可获得10%RA（或更小）；对于面 积法，要用700个晶粒计数，才能得到10%RA（或更小）。测量重复性与再现性随晶粒或截线截点计数 的增多而改善，相同的计数截点法优于面积法。 12.8为了获得准确的计数，面积法要求在计数时将晶粒划分标记，截点法无需对晶粒标记。因此，截 点法的使用更简便快捷。试验表明，在相同计数条件下，截点法能提供更好的统计精度

A.1铁素体钢的奥氏体晶粒度

A.1.1铁素体钢原奥氏体晶粒形成

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测定晶粒度时，有时需要显示晶粒某些先前特征（如在冷状态下检验高温状态的奥氏体晶粒），需要 寸材料试样相应的处理或工艺操作，以显示出原奥氏体化过程中材料中已存在的奥氏体晶界。本附录 共推荐使用。

A.1.1.2形成方法

除非另有规定，原奥民体晶粒度应由下述方法之一种来形成。下述方法中的碳含量指标仅作为建 议。用于形成原奥氏体晶粒度有许多种方法，了解晶粒生长与粗化的有关知识对决定选用哪一种方法 有帮助。任何一种钢，原奥氏体晶粒的大小主要决定于钢加热温度和在该温度下的保温时间。应注意 到加热气氛可能影响试样外层的晶粒的生长。原奥氏体晶粒度也会受到钢原先处理的影响，如奥氏体 化温度、火、正火、热加工及冷加工等。因此，在测定原奥氏体晶粒度时，应考虑原始及随后的处理对 试样的影响作用，

A.1.1.2.1相关法correlationprocedure

对于碳钢及合金钢，试验条件应与材料实际使用时为改善性能所用的热处理制度相关。经双方同 ，常规工艺为试样加热温度不超过正常热处理温度30℃：但最高不超过930℃，保温时间为1h～

A.1.1.2.2渗碳法carburizingprocedure

适用于碳含量（质量分数）不大于0.25%的碳钢及合金钢，尤其是渗碳钢采用渗碳法显示奥氏体晶 粒度。对于碳含量较高的钢不使用渗碳法。除非另有规定，渗碳试样热处理在930℃士10℃保温6h 应保证获得1mm以上的渗碳层，渗碳剂应保证在规定的时间内产生过共析层。试样以缓慢的速度炉 冷至下临界温度以下，足以在渗碳层的过共析区的奥氏体晶界上析出渗碳体网，试样冷却后切取新切 面，经磨制和腐蚀，显示出过共析区原奥氏体晶粒形貌。依照表2进行显微检验。

A.1.1.2.3模拟渗碳法mockcarburizingprocedurd

按A.1.1.2.2进行热处理，但不使用渗碳气氛，并且试样应从模拟的渗碳温度以足够快速度冷却成 马氏体，而不是渗碳后缓慢冷却。切取试样面（注意研磨面要求避免火切）、经磨制抛光、用试剂（例如饱 和苦味酸水溶液)浸蚀以显示出原奥氏体晶粒边界。由于某些钢使用渗碳法产生渗碳层较薄，有时选用 模拟渗碳法。使用模拟渗碳法的试样，横截面上所有的晶粒都能检验到。由于模拟渗碳法试样有较大 的表面供检验，类似带状晶粒度、双重晶粒度（见GB/T24177）及ALA晶粒（见YB/T4290）等问题很 容易检测出来

A.1.1.2.4铁素体网法ferriteoutlingprocedur

含碳量0.20%～0.60%的碳钢及合金钢，除非另有规定，碳含量（质量分数）≤0.35%的试样在 890℃土10℃加热；碳含量（质量分数)>0.35%的试样在860℃土10℃加热，保温最少30min，然后空 冷、炉冷或等温淬火。冷却后，切取试样面、经磨制抛光及适当的浸蚀后显示出在晶界上析出的铁素体 所刻画的奥氏体晶粒度。按表2进行显微检验 注：为了使铁素体以细而连续网析出于奥氏体晶界，以清晰地显示出原奥氏体晶粒，针对不同钢种需调整冷却 方法。 低碳钢（碳含量大约0.20%）建议试样加热到890℃，保温30min移到730℃～790℃炉内，保温3min~ 5min，随即水冷； b）中碳钢（碳含量大约0.50%），适合炉冷： c) 含碳量更高的碳钢和碳含量超过0.40%的合金钢，建议试样加热到860℃，保温30min，将温度降低到730℃ 土10℃保温10min，接着水冷或油冷

A.1.1.2.5氧化法oxidationprocedure

um研磨剂）。将试样抛光面向上放置炉中，除非另有规定，碳含量（质量分数）不大于0.35%，试 890士10℃加热；碳含量（质量分数）大于0.35%，试样在860℃土10℃加热，保温1h，冷水或盐水 火。抛光淬火后的试样显示出氧化表面上的奥氏体晶粒度

防火标准规范范本A.1.1.2.6直接淬硬法directhardeningprocedure

适用于含碳量通常在1.00%以下的碳钢及合金钢。除非另有规定，碳含量（质量分数）不大于 0.35%，试样在890士10℃加热；碳含量（质量分数）大于0.35%，试样在860℃土10°C加热，保温1h 后以完全硬化的冷却速度火。 冷却后，切取试样面，经磨制抛光，浸蚀显示出马氏体组织。浸蚀前可在加热230℃士10°C，保温 5 min回火,以改善对比度

A.1.1.2.7渗碳体网法cementiteoutliningproc

适用于含碳量超过1.00%以上的碳钢及合金钢。通常使用直径或边长约25.4mm试样做试 非另有规定，试样在820℃士10°C加热，保温30min，然后以足够慢的冷却速度随炉冷却到下临界 以下，使碳化物从奥氏体晶粒边界析出。冷却后，切取试样面，经磨制抛光及适当的浸蚀后显示出 界上析出的碳化物所勾画的原奥氏体晶粒度

A.1.1.2.8细珠光体（屈氏体）网法finepearliteoutlingprocedure

适用于共析钢某些略低于或略高于共析成分的钢。有下列两种方法： a）淬硬一个大小适中的试棒，试样外层完全淬硬而心部不完全淬硬； 采用梯度淬火，将加热具有一定长度的试样，一端部分浸人水而完全淬硬，剩余没有浸人水露 出的部分不淬硬。 上述方法都会存在着一个不完全淬硬的小区域。在该区域内原奥氏体晶粒由少量细小珠光体（届 体）围绕着的马氏体品粒组成检测标准，以此显示出原奥氏体晶粒度

.1.2原奥氏体晶粒边界的显示方法

下述的显示方法及浸蚀剂（或其他未列入的浸蚀剂)应根据试样的具体情况，不论使用哪一种，都以 20