.1用天平称量表2规定的试件，记录为m1，精确至0.001g。 4.2将符合GB/T6682规定的三级水注人符合6.3.6的试管中，然后将称量好的试件悬挂在试 试件应完全浸润，悬挂时试件应间隔6mm左右，可用带孔的玻璃珠进行间隔，见图1

6.6.4.1用天平称量表2规定的试件，记录为m1，精确至0.001g。

图1吸水率的试验装置示意图

6.6.4.3试件悬挂在水中168h后取出，用滤纸吸干可见水渍，立即称量试件质量，记录为m2文化标准， 0.001 g。

4.3试件悬挂在水中168h后取出，用滤纸吸干可见水渍，立即称量试件质量，记录为m2，精确至 1g。

6.6.4.4结果应按式(1)计算：

式中： W 吸水率，%; 浸水前试样质量，单位为克（g）； 浸水后试样质量，单位为克（g）。 试验结果取3个试件结果的算术平均值，精确至1%

6. 6. 5 不透水性

应按GB/T16777—2008第15章进行试验

6. 6. 6 耐热性

6. 6. 6. 1 试件制备

将试样搅拌均匀，按使用说明的要求分三次涂覆于洁净的彩钢板正面（如有配套基材处理剂 求先进行界面处理），彩钢板应符合6.3.4的要求，尺寸为120mm×50mm。每次涂覆间隔 24h，在48h以内使干膜厚度达到（1.0士0.2）mm，按6.4的要求进行养护，不需脱膜，共制 试件。

6. 6. 6. 2 试验过程

将养护到期的3个试件垂直悬挂在温度为（90士2）℃的电热鼓风干燥箱内，试件与干燥箱壁间 离不应小于50mm，试件的中心宜与温度计的探头在同一水平位置，5h后取出，观察表面是否出买 泡、剥落和裂纹现象

6. 6. 7 低温弯折

应按6.6.6.1进行试件制备。将养护到期的试件和弯板放人已调节到规定温度（一30士2）℃的低 温冰柜的冷冻液中保持1h。然后在冷冻液中，将试件在3s内绕弯板弯曲180°，弯曲时涂膜面向下紧 贴弯板（见图2），立即取出试件目测观察涂膜表面是否出现裂纹、断裂现象，是否与基材脱离。并记录。

6. 6. 8 剥离粘结性

应按附录 A进行试验

6.9加热处理后拉伸强度保持率和断裂伸长率

6.10浸水处理后拉伸强度保持率和断裂伸长率

将按表2裁切好的试件连续浸泡在符合GB/T6682规定的三级水中168h后取出，用干布擦干， 并在（60士2)℃干燥箱中放置6h后，取出在标准试验条件下养护（18士2)h。然后用符合6.3.8规定的 亚铃I型裁刀裁切，按GB/T16777—2008中9.2.1进行试验，拉伸速度为200mm/min。应按 GB/T16777—2008中9.3进行结果计算

将按表2裁切好的试件放人符合GB/T18244一2000中第6章要求的弧灯老化试验箱中，试验

JG/T375—2012累计辐照能量为1500MJ/m（约720h)后取出。再在标准试验条件下放置4h，用符合6.3.8规定的哑铃I型裁刀裁切，应按GB/T16777—2008中9.2.1进行试验，拉伸速度为200mm/min。应按GB/T16777—2008中9.3进行结果计算。6.6.13加热伸缩率应按GB/T16777—2008第12章进行试验和结果计算。6.6.14耐沾污性将试样搅拌均匀，按使用说明的要求分二次涂覆于洁净的彩钢板正面，彩钢板应符合6.3.4的要求，尺寸为150mm×70mm。涂覆间隔24h膜厚度控制在0.2mm~0.3mm。共制备3个试件。制备好的试件在标准试验条件下养护96h，再放人（40士2)℃干煤箱中烘干48h，取出后在标准试验条件下放置4h以上备用。养护到期后的试件应按 GB/T9780 的规定进行试验。6.6.15太阳光反射应按附录B6.6.16半球发射应按附录C进行试验7检验规则7.1检验分类产品检验分出厂检验和型7. 1. 1出厂检验出厂检验项目包括外观、固体含量、无处理拉伸强度、无处理断裂伸长率、不透水性、耐热性和低温弯折。7.1.2型式检验型式检验项目为第5章规定的全部要求。有下列情况之一时，必须进行型式检验：a)新产品或者产品转厂生产的试制定型鉴定：b)正式生产后,如原料、配比、工艺有较大改变；正常生产时，应每年进行一次型式检验d)产品停产半年后，恢复生产时；e)出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时；f)国家质量监督机构要求进行型式检验时。7.2组批和抽样7.2. 1对同一原料、配方、连续生产的产品，以每5t为一批，不足5t亦可按一批计。7.2.2抽样应按GB/T3186进行，共抽取4kg样品。7.3判定规则7.3.1单项判定外观应符合5.1规定，则判该批产品合格。

JG/T 375—2012

耐热性、不透水性、低温弯折三个试验项目，每个试件结果均应符合表1规定，则判该项目合格。 其余项目各试件试验结果的算术平均值应符合表1 的规定,则判该项目合格

7. 3. 2 综合判定

各项试验结果均符合第5章规定，则判该批产品合格。若有两项或两项以上指标不符合第5章规 定，则判该批产品不合格；若有一项指标不符合第5章规定时，允许在同批产品中，加倍抽取试样对不符 合项进行复验。若复验结果均符合第5章规定，则判该批产品合格：否则判为不合格

8标志、包装、运输与贮存

包装的外立面应有牢固明显的标志，标志内容：产品标记、生产厂名、厂址、产品净重、商标、生 期、生产批号、有效日期、运输和贮存条件

包装好的产品应附有产品合格证和产品使用说明

本产品为非易燃易爆材料，宜按一般货物运输。运输时，应防冻、防止雨淋、防止曝晒、防止挤压 止碰撞，产品包装应保持完好无损

、干燥、防止日光直接照射，贮存温度不应低于5℃ 自生产之日起，产品的贮存期不应少于6个月。超过贮存期，宜按本标准规定项目进行检验，相 结果符合要求的产品仍可使用

JG/T 3752012

附录A （规范性附录） 剥离粘结性的测定

于100mm。但不包括最初的25mm，可划一条估计的等高线来得到平均剥离力。此平均剥离力除以 粘合面宽度即为试件的剥离强度，单位为N/mm。 取 5 个试件的算术平均值作为测量结果,精确至 0. 01 N/mm

适用于测定热反射型金属屋面丙烯酸高弹防水涂米

附录B （规范性附录） 太阳光反射比的测定

本方法使用漫射钨卤素灯在10s的测量周期内，照射一个平整的样品2s。通过4个探测器测量入 射角为20°的辐射反射。每一个探测器配备滤光装置，使得它能与太阳光光谱的特定波段产生电子感 应。这些电子感应经过读数模块处理后得出太阳光反射比。仪器采用黑色腔体来校零，使用制造商提 供的已知反射比的标准板进行校准。被测表面紧贴在仪器测量头的开口处，保持位置不变直至显示恒 定值。

由钨卤素灯、过滤器和4个不同波段的探测器组成，钨卤素灯作为辐射源用于照射，过滤器用于调 整辐射反射使之与特定波段相适应，探测器用于感应不同波段的辐射反射。测量头端部有一个孔径为 25mm的圆孔,试样表面通过该圆孔接收并反射辐射

用于连接测量头和读数模块。连接电缆将4个探测器的输出信号传输到读数模块

读数模块与测量头相连，用于处理测量头的信号、太阳光反射比数字输出信号，以及显示输人参数 或校准信息，数显分辨率为0.001

B. 3. 4 校准装置

和多个高反射比的标准板，黑腔体用于仪器调零，

将试样分两次刮涂在洁净的铝合金板上，涂覆间隔24h。干膜厚度控制在（0.5士0.1)mm。共制

备3个试件。制备好的试件在标准试验条件下养护96h，再放人（40士2）℃干燥箱中烘干48h，取出后 在标准试验条件下放置4h以上备用。

个试件。制备好的试件在标准试验条件下养护96h，再放人（40士2）℃干燥箱中烘干48h，取出后 在标准试验条件下放置4h以上备用

将试件放在测量头圆形端口的顶部，涂层面朝向圆孔，调整到合适位置，使试件与圆孔边缘 触，避免辐射泄漏导致测量结果的不准确。在不少于3个10s的测量周期内应保持试件不动 显示数据恒定时，即为测量结果

取 3个试件的算术平均值作为测量结果,结果精确至 0. 01

JG/T 375—2012

于测定热反射型金属屋面丙烯酸高弹防水涂料的

本方法采用差热电堆原理测定半球发射率。通过加热测量头热电堆，使测量头和测试面之间产生 温差。差热电堆由高发射率探头元件和低发射率探头元件组成。被测试件放在散热器平台上，其发射 率值通过与标准板发射率的比值而量化

差热电堆式发射率仪主要由测量头、散热槽、标准板及读数模块等组成，贝图C1

图C.1发射率仪示意图

测量头主要由可控加热器、高发射率探头元件和低发射率探头元件构成，其中可控加热器置于发射 12

JG/T 375—2012

发射率探头元件能够产生与温差成 比例关系的输出电压，而温差则是由这 收热能的差异而产生

出口标准C. 3. 2 读数模块

通过对热堆输出信号处理，直接显示发射率读数

由低发射率抛光不锈钢标准板和高发射率黑色标准板组成。标准板由仪器制造商提

干膜厚度控制在（0.5士0.1）mm。共制备 试件。制备好的试件在标准试验条件下养护96h，再放人（40士2）℃干燥箱中烘干48h，取出后在 试验条件下放置4h以上备用，

使用前仪器应预热30min

更用前仪器应预热30mir

C.5.2.1将高发射率标准板和低发射率标准板置于散热槽平台上，标准板与散热槽平台之间的空 应用蒸馏水或其他高导热材料填满。 C.5.2.2将发射率仪测量头放在高发射率标准板上，停留90s，使读数稳定。如果读数与标准板标定 直不一致，通过调整读数装置上的旋钮，使二者一致。 C.5.2.3将发射率仪测量头放在低发射率标准板上消防标准规范范本，停留90s，使读数稳定。如果读数与标准板标定 值不一致，则调整发射率仪上的偏置调整器，使二者一致。 C.5.2.4将发射率仪测试头再次放在高发射率板上，重复上述的操作步骤，直至读数与两标准板 致,不再需要调整。

将被测试件放在散热槽平台上，为促进试件与 专热，可在试件与散热槽平台之间滴儿调蒸 至少放置90s，使温度稳定。然后将发射率仪测量头放在被测试件上，直到读数稳定，即为测量结果

C. 5. 4 结果处理