DB34／T 1974-2013 在役索道驱动轮轴超声波检测规程
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- DB34／T 1974-2013 在役索道驱动轮轴超声波检测规程
6.1.1单个缺陷弓引起缺陷波波幅变化的质量分
单个缺陷引起缺陷波波幅变化的质量分级 见表2。
6.1.2由缺陷引起底波降低量的质量分级
6.1.3不允许存在密集缺陷。 6.1.4当缺陷被检测人员判定为危害性缺陷时，轮轴的质量等级为V级。 6.1.5根据索道及相关轴类的规范进行质量验收，或双方协议的技术要求进行验收，
6.2纵波小K值探头检测结果质量分级评定
6.3在用驱动轮轴超声检测时，如在轮轴侧面和键槽根部出现高于对比试块切槽回波的缺陷反射波时， 应予以判废。
DB34/T 19742013
附录A （规范性附录） 典型缺陷信号的判别 当底波高度基本不变，示波屏出现单独缺陷回波，说明存在单个分层、裂纹等。 示波屏出现缺陷回波甚多，波与波之间间距甚小，有时波的下沿边成一片，这种缺陷为密 集缺陷回波。密集缺陷可能是疏松、非金属夹杂物、白点或成群裂纹。 3）当缺陷回波很高，并且有多次重复回波，而底波严重下降甚至消失时，说明存在平行于端 面的大面积缺陷。 4）当缺陷回波和底波都很低甚至消失时，说明存在大面积倾斜于端面缺陷或在端面附近有大 缺陷，或驱动轮轴材料晶粒过大。 当示波屏出现密集的彼此相连的缺陷回波，底波明显下降或消失时，说明存在疏松、非金属夹杂物 白点或成群裂纹
饲养标准DB34/T19742013
附录B （规范性附录） 轴类超声波检测报告
DB34/T19742013
附录C （规范性附录） 轴类超声波测量部位示意图
附录C （规范性附录） 轴类超声波测量部位示意图
6.1.1单个缺陷弓引起缺陷波波幅变化的质量分
单个缺陷引起缺陷波波幅变化的质量分级 见表2。
6.1.2由缺陷引起底波降低量的质量分级
6.1.3不允许存在密集缺陷。 6.1.4当缺陷被检测人员判定为危害性缺陷时，轮轴的质量等级为V级。 6.1.5根据索道及相关轴类的规范进行质量验收，或双方协议的技术要求进行验收，
6.2纵波小K值探头检测结果质量分级评定
6.3在用驱动轮轴超声检测时，如在轮轴侧面和键槽根部出现高于对比试块切槽回波的缺陷反射波时， 应予以判废。
DB34/T 19742013
附录A （规范性附录） 典型缺陷信号的判别 当底波高度基本不变，示波屏出现单独缺陷回波，说明存在单个分层、裂纹等。 示波屏出现缺陷回波甚多，波与波之间间距甚小，有时波的下沿边成一片，这种缺陷为密 集缺陷回波。密集缺陷可能是疏松、非金属夹杂物、白点或成群裂纹。 3）当缺陷回波很高，并且有多次重复回波，而底波严重下降甚至消失时，说明存在平行于端 面的大面积缺陷。 4）当缺陷回波和底波都很低甚至消失时，说明存在大面积倾斜于端面缺陷或在端面附近有大 缺陷，或驱动轮轴材料晶粒过大。 当示波屏出现密集的彼此相连的缺陷回波，底波明显下降或消失时，说明存在疏松、非金属夹杂物 白点或成群裂纹
DB34/T19742013
附录B （规范性附录） 轴类超声波检测报告
设计图纸DB34/T19742013
附录C （规范性附录） 轴类超声波测量部位示意图
附录C （规范性附录） 轴类超声波测量部位示意图
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