像质计标记区域（见图1）应包含以下信息： 放在最小孔附近的孔编号； b) 代表所用像质计材料的标记，例如：FE指钢； c）GB标记。 示例：H5FEGB 带有“ISO"或“EN"的像质计与带有"GB"的像质计等同使用。 标记材料不应在射线照相检测图像产生可能影响图像评定的眩光，其衰减不宜超过最大厚度阶梯 的两倍。

像质计标记区域（见图1)应包含以下信息： 放在最小孔附近的孔编号； b) 代表所用像质计材料的标记，例如：FE指钢； c）GB标记。 示例：H5FEGB 带有“ISO"或“EN"的像质计与带有"GB"的像质计等同使 标记材料不应在射线照相检测图像产生可能影响 两倍。

每个像质计都应附有一份符合ISO/ 具有资格的实验室颁发的并符合本部分技 牛的合格证明。为便于识别，制造商还应对像质计进行编号和标记

当被检工件的源侧表面无法放置像质计时，像质计可放置在被检工件的探测器侧，但像质计附近需 放置铅字“F”以示区别。 像质计应放置在工件厚度相对均匀的区域。 有特殊要求时应按所采用标准的规定进行

当被检工件的源侧表面无法放置像质计时，像质计可放置在被检工件的探测器侧装修CAD图纸，但像质计附近需 放置铅字“F”以示区别。 像质计应放置在工件厚度相对均匀的区域。 有特殊要求时应按所采用标准的规定进行

使用胶片射线照相检测，在确定像质值时，观片条件应符合ISO5580的要求。在图像上能识另 孔的编号即为像质值。当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔均应在图像上可识别。 一般情况下，每次射线照相检测均应通过确定像质值验证其图像质量是否满足要求。 在透照相似的被检工件和区域时，如果采用相同的曝光和处理技术措施能保证并且所得的像质 有差别，则不需要对每张图像质量进行验证，图像质量的验证范围可由合同各方商定，

使用胶片射线照相检测，在确定像质值时， 观片条件应符合ISO5580的要求。在图像上能识别的 最小孔的缩号即为像质值。当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔均应在图像上可识别。 一般情况下，每次射线照相检测均应通过确定像质值验证其图像质量是否满足要求。 在透照相似的被检工件和区域时，如果采用相 同的曝光和处理技术措施能保证并且所得的像质值 没有差别，则不需要对每张图像质量 围可由合同各方商定