GB／T 23901.3-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分：像质分类
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- GB／T 23901.3-2019 无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分：像质分类
当使用Ir192或Se75进行射线照相检测时，如合同各方认可如下规定，则所得像质值可低于表
表12规定。 双壁双影透照方法（表5表8），透照厚度（w），像质等级包括A级和B级： 使用Ir192.10mm
防雷标准规范范本8单壁透照技术（源侧A级像质）
像质计置于源侧.应达到的A级像质值见表1表2。
表2阶梯引型像质计像质
9单壁透照技术（源侧B级像质）
计置于源侧.应达到的B级像质值见表3～表4
表4阶梯孔型像质计像质
10双壁双影透照技术（源侧A级像质
O双壁双影透照技术（源侧A级像质）
质计置于源侧，应达到的A级像质值见表5～表6
表6阶梯孔型像质计像质
11双壁双影透照技术（源侧B级像质）
11双壁双影透照技术（源侧B级像质）
像质计置于源侧，应达到的B级像质值见表7～表8。
表8阶梯孔型像质计像质
像质计置于探测器侧.应达到的A级像质值见表9～表10
像质计置于探测器侧变电站标准规范范本，应达到的A级像质值见表9～表10
表10阶梯孔型像质计像质
13双壁双影或双壁单影透照技术（探测器侧B级像质）
像质计置于探测器侧.应达到的B级像质值见表11~表12。
表11丝型像质计像质
楼梯标准规范范本表12阶梯孔型像质计像质
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