综合考虑介质层厚度、介质层超声特性、封装结构和可用换能器等因素，选择可用的频率最高的 器对所检测试样进行扫查检测

在某一固定距离下，调整换能器与试块表面之间的角度，使试样表面反射回波幅值最大，使换能器 声束轴线与试样表面垂直。 在A扫描显示模式下，通过调节换能器的高度，即移动扫查装置坐标系的Z轴，使声束聚焦在要成 像的检测面上。

把被测件放置在耦合剂中，使被测件表面平行于超声显微镜的扫查运动平面，除去被测件表面和换 能器表面的气泡。

7.3.1设置扫查起点及扫查范围

点。然后沿着扫查轴正向移动换能器，回波信号会先增强到最大再逐渐消失，设置回波信号刚刚 位置为扫查终点，扫查起点到扫查终点间的距离为扫查长度。按同样的方法设置步进轴的扫查 扫查长度。

7.3.2设置扫查点间距

扫查图像的横向分辨力取决于换能器声束的聚焦特性和扫查时的采样点间距，扫查点间距应考虑 换能器声束焦点直径（声束焦点直径指换能器在检测有效距离处按一6dB法测量的最窄声束宽度），应 按照相邻两个扫查点的间距不大于换能器声束焦点直径的1/2的原则设置扫查轴采样点间距和步进轴 的步进间距。

7.3.3设置扫查速度

为确保超高速数据采集器能完整地记录下回波信号，要求采样点间距内的扫查运动时间大于被测 面回波的传播时间。实际对扫查速度进行设置时，要适当留有余量，还要考虑高速数据采集器的数据处 理附加时间等因素

对被测件或材料的C扫描图像进行分析，观察其结构或缺陷情况，并且手动或自动对图像中的结 构或缺陷的尺寸进行测量，得出检测结果并进行记录。 在确认超声C扫描图像的异常部分是否为缺陷时项目管理和论文，可补充观察异常部位的回波信号进行确认，有 条件时应对所测构件进行物理分析以确定该异常部分是否为缺陷。 对C扫描显示图像的异常确认为缺陷后，及时进行记录。

检测报告的内容应至少但不限于包括下列信息 委托单位； 被检件材料或构件的描述； c） 检测设备，包括仪器、换能器、耦合剂等； d) 检测结果； ) 检测机构名称、检测人员姓名及签字； f）检测日期