JB∕T 13360-2018 荧光检测分析用干涉滤光片

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    1.3发射滤光片光学性能

    管道标准5.1.3.1通带范围

    应符合采购文件的规定,若采购文件无明确要求,发射滤光片的通带范围应处于待测荧光试剂的 射光谱的高发射响应波段内(参见图A.2)。

    5.1.3.2通带透射率

    应符合采购文件的规定,若采购文件无明确规定,发射滤光片通带透射率应符合表1的规定。

    5.1.3.3截止带范围

    应符合采购文件的规定,若采购文件无明确规定,发射滤光片的截止带范围的上限值应不小 760nm,下限值应不大于荧光检测系统中所用光电接收器的光谱响应范围的下限值。对于不用光电接 器而用人眼感知荧光的系统,其截止带范围的下限值为380nm。

    5.1.3.4背景截止度

    应符合采购文件的规定,若采购文件无明确规定,发射滤光片的截止带背景截止度应符合表1的 定。在同一荧光滤光片组的激发滤光片的通带范围内,I型发射滤光片的背景截止度平均值应优于OI II型发射滤光片的背景截止度平均值应优于OD6(见表1)。

    5.1.4分色镜光学性能

    5.1.4.1反射带范围

    应符合采购文件的规定,若采购文件无明确规定,反射带范围应包括同组荧光滤光片组中激发滤光 片的通带范围。

    5.1.4.2反射带反射率

    5.1.4.3通带范围

    应符合采购文件的规定,若采购文件无明确规定,透射带范围应包括同组荧光滤光片组中发射滤 片的通带范围。

    5.1.4.4通带透射率

    5.1.5透射波前畸变

    应符合采购文件的规定,采购文件无明确规定即表示对此项无要求。 注:透射波前畸变通常适用于高精度成像系统应用的荧光滤光片(主要为IⅡI型荧光滤光片),对此类系统应用的荧 光滤光片可规定发射滤光片和分色镜的透射波前畸变不大于2/4(2=632.8nm)

    采购文件的规定,采购文件无明确规定即表示对此项无要求。 寸波前畸变通常适用于高精度成像系统应用的荧光滤光片(主要为II型荧光滤光片),对此类系统应用的荧 滤光片可规定发射滤光片和分色镜的透射波前畸变不大于>/4(>=632.8nm)

    JB/T133602018

    荧光滤光片疵病公差、长擦痕公差应满足产品图样或采购文件的规定。无明确规定时,疵病公差应 满足C1X0.4的要求,长擦痕公差应满足L1X0.4的要求(见GB/T1185一2006)

    在温度为25℃~65℃和相对湿度为85%~95%范围内,荧光滤光片经过10个循环周期试验后,其 光学性能应符合5.1的规定。

    6.1光学性能检验方法

    6.1.1检验仪器及检验方法

    6.1.1.2激光干涉仪

    荧光滤光片透射波前畸变检验仪器为激光干涉仪,其应满足下列要求: PV值精度与重复性不大于0.052,RMS值精度与重复性不大于0.012,有效测试区域直径不小于 in(1in=0.0254m);标准镜面面形精度优于a/20;激光干涉仪应放置在能够消除1Hz~120Hz振动 的减振台上。

    根据分光光度计测试所得的灾 应符合5.1.2.1的规定,发射滤光片通带范 ,分色镜通带范围应符合5.1.4.3的规定

    JB/T13360—2018

    带透射率应符合5.1.2.2的规定, 子色镜结果应通带 率5.1.4.4的规定。

    在截止带范围内判定灾光滤 谱宽度为0.5nm~2nm,测试取点间隔为 2nm~4nm,积分时间不小于0.5s。根据分光光度计测试的荧光滤光片透射率(或光密度)数据和曲 我,计算荧光滤光片的背景截止度数据,激发滤光片背景截止度应符合5.1.2.4的规定,发射滤光片背 景截止度应符合5.1.3.4的规定

    根据分光光度计测试所得的荧 线进行判断,分色镜反射带范围应符 5.1.4.1的规定。

    6.1.6反射带反射率

    6.1.7透射波前畸变

    利用激光于涉仪测量荧光滤光片的透射 检验结果应符合5.1.5的规定

    按照GB/T1185一2006中6.1.3规定的常规比对法进行检验时,检测装置参照本标准图C.1。检验 结果应符合本标准5.2的规定。

    1高低温循环试验温度变

    JB/T133602018

    按照GB/T26331一2010中4.5.2的规定,交变湿热试验方法如下: 每24h为一个循环周期;首次循环0h~2h内包含30min的稳定时间,使温度从室温稳定到 23℃土2℃,相对湿度达到85%,此后循环不包含该段时间。普通周期内温度变化的要求为:0h~2h, 温度从23℃土2℃以均匀速率变化到65℃土2℃;2h~8h,温度保持在65℃土2℃范围内;8h~24h, 温度从65℃土2℃以均匀速率变化到23℃土2℃。一个周期内相对湿度变化的要求为:0h~4h,相对湿 度不低于85%;4h~8h,相对湿度为90%~95%;8h~24h,相对湿度不低于85%。温度和相对湿度 变化如本标准图2所示。

    图2交变湿热试验温度及相对湿度变化曲线

    将荧光滤光片按此试验方法进行10个循环周期试验,试验结束后在室温下恢复1h,进行光学性能 试验,其结果应符合本标准5.3.2的规定

    产品的检验分为出厂检验和型式检验

    出厂检验的检验项目及检验顺序见表2

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    表2检验项目及检验顺压

    注2:不合格类型A是指单位产品的极重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性极严重不符合规 定。不合格类型B是指单位产品的重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性严重不符合规 定(详细内容请参考GB/T2829—2002)。 注3:透射波前畸变的测量由供需双方协商确定,对于无透射波前畸变要求的荧光滤光片,该指标项可省略

    注2:不合格类型A是指单位产品的极重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性极严重不符合规 定。不合格类型B是指单位产品的重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性严重不符合规 定(详细内容请参考GB/T2829—2002)。 注3:透射波前畸变的测量由供需双方协商确定,对于无透射波前畸变要求的荧光滤光片,该指标项可省略。

    出厂检验可以选用逐件检验或抽样检验。任意一项不满足规定即判定该产品为不合格产品,当抽样 检验不合格时,应采用逐件检验方式重新检验。

    抽样检验时,按GB/T2828.1一2012中的一次抽样方案,采用一般检验水平ⅡI,接收质量限(AQL) 为1.5。

    型式检验的检验项目及检验顺序按表2的规定。

    型式检验一般每年进行一次,有下列情况之一时,应进行型式检验: 新产品的试制定型鉴定; 老产品转厂生产; 产品正式生产后,结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品性能; 出厂检验结果与上次型式检验有较大差异; 国家质量监督机构提出进行型式检验的要求; 用户提出特殊需要。

    经型式检验的样品,不能交付用户使用。

    8标志、包装、运输和贮存

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    8.1.1荧光滤光片上应明确标识出是激发滤光片还是发射滤光片;应在激发滤光片、发射滤光片和分 色镜上明确标识出光的入射方向。 3.1.2在荧光滤光片外壳或包装袋的适当位置应标明型号。 8.1.3在荧光滤光片的包装箱(盒)上应标明

    产品名称、型号规格及数量; 防护标志; 装箱日期; 装箱员编号: 生产单位名称或商标; 执行标准编号。

    产品名称、型号规格 防护标志; 装箱日期; 装箱员编号: 生产单位名称或商标: 执行标准编号。

    3.2.1荧光滤光片包装应符合GB/T13384一2008的规定。

    荧光滤光片允许采用各种运输工具运输,在运输过程中应防压并防止受到剧烈冲击、雨淋。

    经包装后的荧光滤光片应存放在温度为0℃~40℃、相对湿度不超过85%、无腐蚀性气体和通风 好的洁净环境内。

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    A.1典型荧光滤光片组应用示意

    A.2典型荧光滤光片光谱示意图

    附录A (资料性附录) 常用荧光滤光片组结构及光谱示意图

    图A.1典型荧光滤光片组结构示意图

    典型发射滤光片包括带通滤光片和长波通滤光片两种型式,具体指标由滤光片应用厂商给出。 激发滤光片的光谱应尽量包含荧光试剂激发荧光最强区域,而发射滤光片的光谱应尽量包含荧光 试剂发射荧光最强区域。由于发射荧光极弱,为了防止激发光对检测结果造成影响,激发滤光片和发射 滤光片相互必须具有较深的背景截止度,如图A.2所示

    典型发射滤光片包括带通滤光片和长波通滤光片两种型式,具体指标由滤光片应用厂商给出。 激发滤光片的光谱应尽量包含荧光试剂激发荧光最强区域,而发射滤光片的光谱应尽量包含荧光 式剂发射荧光最强区域。由于发射荧光极弱,为了防止激发光对检测结果造成影响,激发滤光片和发射 滤光片相互必须具有较深的背景截止度,如图A.2所示

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    )发射滤光片为长波通型的荧光滤光片组透射率曲线示意图

    b)发射滤光片为长波通型的荧光滤光片组背景截止度曲级

    d)发射滤光片为带通型的荧光滤光片组背景截止度示意图

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    B.1常用荧光滤光片光学性能描述方法

    B.1.1按荧光滤光片类型描述

    B.1.1.1 带通滤光片

    补充常用荧光滤光片光学指标及描述方式

    常用中心波长+带宽的描述方式。例如中心波长为530nm,带宽为20nm,其光谱特性可描述为 BP530/20。

    B.1.1.2长波通/短波通滤光片

    常用光谱类型+截止沿位置的描述方式。例如截止沿T=0.5Tmx的位置为550nm的长波通滤光片, 其光谱特性可描述为LP550,若为短波通滤光片,则描述为SP550

    为了更准确地描述荧光滤光片的光谱性能,很多制造及使用荧光滤光片的厂商采用对光谱分段描 的方法来表述。 通带通用表述为:T(2,~/2,)>TL; 截止带通用表述为:D(2~入4,①)>DL; 反射带通用表述为:R(a,~^g,①)>RL。 如图B.1所示。 示例1: 中心波长为530nm、带宽为30nm的激发滤光片,其光谱特性可表述为: 通带表述为:T(516nm~544nm,0°)>85%

    中心波长为530nm、带宽为30nm的激发滤光片,其光谱特性可表述为: 通带表述为:T(516nm~544nm,0°)>85%: 截止带表述为:D(300nm~510nm,0°)>5,D(550nm~1150nm,0°)>5 示例2: DM545的分色镜,反射区可表述为: (520 mm~540mm 45°)>≥95%

    JB/T133602018

    图B.1分段描述方式光谱示意图

    带通滤光片通带短波区(或通带长波区)光谱透射率为0.5Tmax的波长点(a波长点)到相同侧截 上区上指定一波长点(b波长点)的波长间隔与a波长点的百分比,用ST"和ST”表示,ST"表示通带 豆波侧截止陡度,ST”表示通带长波侧截止陡度, 截止陡度是表征带通滤光片光谱截止区和通带区之间的波长间隔相对于带通滤光片波长位置的相 过宽度的物理量,其值越小,表示带通滤光片的通带透射曲线越陡。按公式(B.1)和公式(B.2)计算。

    a:一—在通带短波区内,光谱透射率等于0.5Tmx时所对应的波长; 2—在通带外长波截止区内的指定波长点; 2:—在通带长波区内,光谱透射率等于0.5Tm时所对应的波长。

    抽样标准JB/T133602018

    注1:若无特别说明,对激发滤光片和发射滤光片,2;和2;对应的光谱透射率为0.5Tmax,截止区指定波长点(b 波长点)可认为是靠近通带两侧的光谱透射率等于0.001%时所对应的波长点(见图B.2)。 注2:计算分色镜的截止陡度时,^,选择T=0.8Tmax时所对应的波长,截止区指定波长点(b波长点)选择T=0.1Tmx 时所对应的波长点。

    截止陡度计算方法示意图

    根据分光光度计测试的滤光片通带范围的背景截止度数据和曲线计算截止陡度,测试范围应包含 两侧背景截止度OD5以上部分区域。由于a波长点和波长b点的波长间隔一般仅为几nm至十几nm, 常规背景截止度的测试方法取点间隔大,测试误差也大。一般截止陡度测试光光谱宽度为0.2nm~ 0.5nm,测试区取点间隔应不大于0.5nm,积分时间应不小于0.5s(积分时间应足够大,确保能够测 得足够深的背景截止度)。根据分光光度计测试的光密度数据和曲线,计算截止陡度,结果应符合相 关技术文件的规定。 注:截止陡度为非必选指标。

    常规比对法检测装置如图C.1所示。

    JB/T133602018

    附录C (资料性附录) 常规比对法检测装置

    装修施工组织设计 图C.1常规比对法检测装置

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