GB／T 18852-2020 无损检测 超声检测 测量接触探头声束特性的参考试块和方法.pdf
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半圆阶梯（HS)试块的尺寸，见图1所示。该试块应由实心圆柱体金属加工而成。在试块加工成圆 柱体阶梯状后，沿圆柱轴线剖开，加工到规定的表面状态。半圆阶梯的半径分别为20mm、40mm、 50mm、80mm、91mm和100mm。半径为20mm~80mm的阶梯宽度为25mm，半径为100mm的 阶梯宽度为30mm，半径为91mm的阶梯宽度为28mm。在100mm和91mm阶梯之间有一条半径 为85mm的凹槽，槽宽2mm。沿槽中心的X轴，HS试块分割成轴对称的中心线Y轴，以及相邻阶梯 边界线均应在其表面刻线标识。试块宜置于适宜的试块架上使用。试块架不应损伤试块，也不应因支 撑对试块产生声学性能影响
GB/T18852—2020/ISO12715:2014
HS试块双倍声程特性应用于斜探头时基线调节。工艺规程如下： 选择最大检测厚度范围，在具有双倍声程特性的两个面上检测（如20mm和40mm、40mm 和80mm、50mm和100mm）)； 斜探头置于HS试块上，探头射点与HS试块中心线对齐，使声束射向台阶； 调节仪器增益，使峰值幅度处于满屏高度的80%～100%； 一对台阶中直径较小的圆弧面回波记作t1，直径较大的圆弧面回波记作t2； 调节仪器时基线范围，t，和t2分别与屏幕上相应的刻度线对齐。每格宜等于10mm的声程 时基线零点位置等于检测接触面， 对于超声显示系统，延迟时间（t。）按式（A.1）计算： td=2t1一t2 （A.1 如图A.1所示
HS试块双倍声程特性应用于斜探头时基线调节。工艺规程如下： 选择最大检测厚度范围，在具有双倍声程特性的两个面上检测（如20mm和40mm、40mm 和80mm、50mm和100mm); 斜探头置于HS试块上，探头射点与HS试块中心线对齐，使声束射向台阶； 调节仪器增益，使峰值幅度处于满屏高度的80%～100%； 一对台阶中直径较小的圆弧面回波记作t1，直径较大的圆弧面回波记作t2； 调节仪器时基线范围建筑技术交底，t，和t2分别与屏幕上相应的刻度线对齐。每格宜等于10mm的声程 时基线零点位置等于检测接触面， 对于超声显示系统，延迟时间（ta）按式（A.1）计算： td=2t1一t2 .·（A.1) 如图A.1所示。
GB/T18852—2020/ISO12715:2014
B/T18852—2020/ISO12715:2014
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